HALT（高加速寿命测试）用于测定系统单元的故障特性，该系统单元均装配有电子、电气、机械、机电元件或类似部件。

其间，这些单元将经受极端热力、机械和/或产品特有的压力环境。测试期间将在交互过程中分析故障原因并进行改进。

在测试与认证中心内，通快霍廷格电子将在公司自有的 HALT 室中检测所有新研发产品。由此我们确保最佳上市产品质量。

您将同样受益于 HALT 方法的优势，并可使用通快霍廷格电子的 HALT 室测试您的产品。借此，您可及早识别潜在的产品设计缺陷，缩减研发成本与时间。更多相关信息敬请参阅可供下载的宣传册。